GARANTIA DE CALIDAD ESTADISTICA

18 01 2011

La garantía de calidad estadística refleja una tendencia creciente en toda la industria de establecer más cuantitativa la calidad.

La garantía de calidad estadística implica los siguientes pasos:

1.      Se agrupa y clasifica la información de los defectos.

2.      Se intenta encontrar la causa subyacente de cada defecto.

3.      Mediante el principio de Pareto (el 80% de los defectos se debe al 20% de todas las posibles causas) se aísla el 20% (los pocos vitales).

4.      Identificadas las causas vitales, se actúa para corregirlas.

Revisiones basadas en muestras

Para que un proceso basado en muestras sea eficaz se debe  tener en cuenta:

  • La muestra debe ser suficientemente representativa del producto de trabajo como un todo.
  • Debe ser suficientemente grande de tal manera que sea significativa para los revisiones que se realizan el muestreo. Un equipo de software  debe ser establecer el mejor valor según los tipos de producto de trabajo producidos.

Ejemplo:

Una organización recoge información sobre defectos durante año. Las principales causas son:

  • Especificación incompleta o errónea (EIE).
  • Mala interpretada la comunicación con el cliente (MCC).
  • Desviación deliberada de la especificación (DDE).
  • Incumplimiento de estándares de programación (IEP).
  • Error en la representación de los datos (EDR).
  • Interfaz de módulo inconsistente (IMI).
  • Error en la lógica del diseño (ELD).
  • Prueba incompleta o errónea (PIE).
  • Documentación imprecisa o incompleta (DII).
  • Error en la traducción del diseño al lenguaje de programación (TLP).
  • Interfaz hombre-máquina ambigua o inconsistente (IHM).
  • Varios (VAR).

Para ello se presenta la siguiente tabla el cual muestra los Errores.

Se obtiene para cada etapa del proceso.

Ei = # de defectos descubiertos en la i-ésima etapa.

Si = # de defectos graves.

Mi = # de defectos moderados.

Ti = # de defectos leves.

PS = tamaño del producto (LOC, paginas, etc.) en la i-ésima etapa.

ws, wm, wt = factores de peso de los errores graves, moderados y leves .

Se calcula el índice de fase para cada etapa:

IFi = ws(Si/ Ei) + wm(Mi/ Ei) + Wt(Ti/ Ei)

El índice de errores se obtiene con el cálculo del defecto acumulado de cada fase:

Índice de errores: El índice de errores permite cuantificar la magnitud de los fallos durante el proceso de desarrollo.

Fuente: Novedad


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